Embedded Testing 2026

Wann sind Tests vollständig? Eigentlich nie. Code Coverage ist ein wichtiger Anhaltspunkt – zeigt, welche Code-Teile getestet wurden und wo Lücken sind. Das Problem: Oft ist die Coverage-Messung auf Unittests fokussiert und es wird das Potenzial von Integrations- und Systemtests übersehen. Das Einbeziehen von deren Coverage-Daten ergibt ein realistischeres Bild der Reife und Vollständigkeit dieser höheren Testebene und liefert nebenbei noch eine erhebliche Testabdeckung, die dann nicht mehr durch Unittests nachgewiesen werden muss.
Dieser Vortrag zeigt, wie System- und Integrationstests mit Trace-basierter Analyse in Coverage-Messung (inklusive MC/DC) und Reporting integriert wird. Wir zeigen, wie diese Integration mit der TESSY Hyper Coverage-Funktion umgesetzt wurde und welche technischen Herausforderungen, z. B. bei der zuverlässigen Object-Code nach Source-Code Transformation dabei gelöst werden mussten.

Beim Embedded Testing steht nicht nur die Embedded-Software allein, sondern auch ihr Zusammenspiel mit der angeschlossenen Hardware im Fokus.
Die Integration von CPUs und programmierbarer Logik in Plattformen wie KRIA (Zynq UltraScale+) eröffnet faszinierende Möglichkeiten, bringt jedoch auch neue Komplexität mit sich und erfordert ein Umdenken beim Testen. Das Kernproblem besteht darin, dass traditionelle Testmethoden die CPU-Software und die FPGA-Logik getrennt behandeln; das Verstehen der Interaktion dieser beiden Welten ist jedoch essentiell. Zudem ist die dynamische FPGA-Analyse ziemlich invasiv und benötigt Ressourcen, die meist von der eigentlichen Anwendung benötigt werden.
Der Vortrag zeigt, wie eine umfassende und breitbandige Beobachtung sowie Teststimulierung von CPU und FPGA in solchen Systemen vorgenommen werden kann, um das gesamte System transparenter zu machen, Software- und Hardwaretests zu automatisieren und die Entwicklungs- und Testzeit erheblich zu reduzieren.