Embedded Testing 2026

Im Projekt MediorNet laufen über 1000 automatische Tests auf 5 Testsystemen. Gesamtlaufzeit > 2 Wochen. Im Vortrag zeigt S. Grünfelder zwei praxiserprobte Ansätze, die es erlauben Tests so zu reihen, dass Tests mit hoher Fehlerwahrscheinlichkeit zuerst laufen. Damit können die Entwickler schneller an Bugfixes arbeiten. Ein Ansatz ist systematisch u. mit einem kommerziellen Werkzeug umgesetzt aber scheitert an embedded Themen. Der andere ist heuristisch, universell einsetzbar und unterstützt bei Produktvarianten.
Wenn hunderte Tests pro Nacht laufen und es Fehler gibt, die sich auf verschiedenen Testsystemen auswirken, dann schlagen u.U. dutzende Tests fehl. So kann es passieren, dass mehrere Mitarbeiter gleichzeitig Testergebnisse mit der gleichen Ursache befunden und somit Arbeit doppelt gemacht wird. T. Spiel zeigt in ihrem Vortragsteil, wie KI-Methoden verwendet werden können, um Testfehlschläge automatisch zu clustern und somit die Effizienz der Ergebnisanalyse zu steigern.