Embedded Testing 2027

Willkommen zum Call for Papers der Embedded Testing 2027

Die Embedded Testing ist eine seit vielen Jahren etablierte Testing-Konferenz, die sich auf den Embedded Markt konzentriert. Der Anteil an Embedded Software wird immer größer, wodurch die Konferenz zunehmend an Bedeutung gewinnt. Das drückt sich auch im Wachstum der Konferenz aus. Besonders gefragt sind die Intensiv Coachings auf der Konferenz, in denen die Teilnehmenden an einen ausgewiesenen Experten Fragen aus ihren Projekten stellen können. Auch die konferenzbegleitende Ausstellung namhafter Toolanbieter und Consulting- & Projekthäuser ist über die Jahre kontinuierlich gestiegen. Die Embedded Testing zählt zu den wichtigsten Konferenzen für die Embedded Branche.

Der Call for Papers zur Embedded Testing 2027 ist eröffnet und läuft noch bis einschließlich 29. November 2026. Wir suchen Beiträge zu den folgenden Themen: Normen und Richtlinien, Unit Testing, Integration Test, Agiles Testen im Embedded Umfeld, Hardware In The Loop, Test as a Service, Safety Test und Test Automation. Wir freuen uns auf Ihren Vorschlag.

Vortragende haben kostenlosen Zutritt an beiden Konferenztagen sowie zur Abendveranstaltung am ersten Konferenztag. Reisekosten oder Speaker Honorare können nicht übernommen werden.

Wir laden Sie herzlich ein, Ihre Ideen für die Embedded Testing 2027 über dieses Formular einzureichen.

Einreichungen sind bis 29.11.2026 23:59 (Europe/Berlin) möglich – noch 1 Monat, 3 Wochen.